Communiqué

Neuchâtel, le 10 décembre 2007 - Jeune doctorant à l'Institut de microtechnique de l'Université de Neuchâtel, Daniel Parrat a consacré sa thèse au microscope à force atomique (AFM) qui est actuellement en route pour Mars et à la fabrication duquel il a collaboré. Il présentera sa thèse mercredi 12 décembre à la salle « La Musicienne », Bâtiment du CSEM, Jaquet-Droz 1, à 17h15.

Un microscope à force atomique (AFM) est un instrument permettant d'établir le relief d'une surface avec une précision de l'ordre du nanomètre (milliardième de mètre). Son principe de fonctionnement est la détection des forces agissant entre la surface mesurée et l'extrémité d'une pointe microscopique balayée sur celle-ci.

Dans le cadre de sa thèse, Daniel Parrat a collaboré au développement d'un AFM pour l'exploration de la planète Mars. A bord d'une mission de la NASA qui arrivera sur Mars en mai 2008, ce microscope fournira des images des fines poussières du sol martien avec une précision encore jamais atteinte. Les informations sur la taille et la forme de ces poussières, mises en contexte avec d'autres résultats expérimentaux, devraient permettre de retracer le passé géologique de Mars, en particulier de déterminer si l'eau y a joué un rôle. L'AFM devrait également contribuer à comprendre le climat de Mars, les particules de poussière étant facilement transportées dans les airs et influençant donc par exemple la formation de nuages.

Le travail réalisé consistait premièrement à développer l'instrument avec l'aide de partenaires et à vérifier qu'il répondait à toutes les exigences propres à la mission spatiale. Ensuite, le bon fonctionnement de l'AFM a été démontré par la mesure de particules similaires à celles présentes sur Mars.

UN INSTRUMENT DE HAUTE PRECISION POUR L'ANALYSE DU SOL DE MARS
Thèse présentée par Daniel Parrat le 12 décembre 2007 à la salle « La Musicienne », Bâtiment du CSEM, Jaquet-Droz 1, Neuchâtel, à 17h15.